選拔反應與遺傳反應估值
5-4 選拔反應與遺傳反應估值
生長性能之遺傳趨勢列於圖1.。G0代之平均累加性遺傳值如預期相當於零,由於選拔強度低且族群小自G0到G1之下降可歸因為逢機變異。G2至G8代之遺傳改進趨勢明顯且與田間比較試驗顯示 L302較優之結果吻合(胡等, 1999)。基於遺傳參數所估計之遺傳趨勢已被應用多年,本試驗基礎族群所採用參數的無偏估計不包括母性效應。雖然並無對照族群,結果似乎顯示成功的改善了番鴨10週齡體重及相關性能。10週齡公母鴨體重自G0到G1似乎下降,但並不顯著,自G2後開始上升。累計8代之公母番鴨10週齡體重累加性遺傳值分別為1.3 sg (10週齡公鴨體重)及1.4 sg (10週齡母鴨體重)。受選拔影響18週齡體重及第8根主翼羽長度之累加性遺傳值亦均有增加1.2 sg(公母番鴨18週齡體重)及0.9 sg and 0.7 sg (公母番鴨10週齡主翼羽長度)。產蛋性能與生長性狀之遺傳趨勢列於圖2.。生長性能趨勢與圖1.近似,產蛋性能之改進量在前數代接近0。但累計之遺傳值如 52 週齡產蛋數(EGG52; 0.17σg)、第1產蛋週期前15及22週之產蛋數( EGG15W,0.23σg;EGG22W,0.25σg) 之遺傳趨勢均為正向且趨勢顯著。表16.顯示自G0到G6代非預期的選拔差及估計之選拔改進,由於遺傳相關結果顯示產蛋性能與生長性狀成負相關,是故產蛋性能原來不預期會有改善,遺傳趨勢顯示之非預期改進可以歸因於繁殖期採用在產母鴨所致。由估計所得之遺傳參數觀之,52週齡產蛋數適合作為番鴨產蛋性能選拔依據。但因為生長性能與產蛋性能成負相關,乃建立選拔指數以兼顧生長與產蛋性能之選拔。
圖1.選拔族群G0至G8代6項生長性狀經遺傳標準偏差標準化後之遺傳改進趨勢(Hu et al., 1999)。
GBW10m:公鴨10週重遺傳標準偏差值
GBW10f:母鴨10週重遺傳標準偏差值
GFl10m:公鴨10週齡第8主翼羽長遺傳標準偏差值
GFl10f:母鴨10週齡第8主翼羽長遺傳標準偏差值
GBW18m:公鴨18週重遺傳標準偏差值
GBW18f:母鴨18週重遺傳標準偏差值
圖2. 選拔族群G0至G7代2項生長性狀與3項產蛋性狀經遺傳標準偏差標準化後之遺傳改進趨勢(Hu et al., 2004)。
BW10M:公鴨10週重遺傳標準偏差值
BW10F:母鴨10週重遺傳標準偏差值
NEGG52:52週齡產蛋數遺傳標準偏差值
NEGG15W:第1產蛋期15週內產蛋數遺傳標準偏差值
NEGG22W:第1產蛋期22週內產蛋數遺傳標準偏差值
表16. G0到G6代非預期的選拔差及估計之選拔改進
性狀 | 初產日齡
(天) | 40週齡蛋數
(枚) | 52週齡蛋數
(枚) | 第1產蛋期
15週內產蛋數(枚) | 第1產蛋期
22週內產蛋數(枚) |
CSD(1) | -36 | 22 | 64 | 58 | 73 |
E(ΔG)(2) | -3.6 | 2.5 | 8.6 | 5.8 | 8.0 |
E(ΔG)(3) | -0.26 | 0.36 | 0.58 | 0.54 | 0.56 |
(Hu et al., 2004)
(1) CSD: 累加性選拔差
(2) E(ΔG):預期遺傳改進量: 1/2 (CSD) ´ h2, h2 為性狀遺傳率
(3) E(ΔG):以遺傳標準偏差表示之預期遺傳改進量